场发射透射电子显微镜
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8/人使用者
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325/次机时次数
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2438.81/小时总时长
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0/次送样次数
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10/人收藏者
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收费标准
机时按检测项目计费 -
设备型号
JEOL-F200 -
当前状态
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管理员
李昀 13849162702 -
放置地点
河南大学校级平台纳米科学与工程研究院纳米材料工程研究中心纳米科学与工程研究院透射电镜
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
场发射透射电子显微镜
资产编号
S202500024
型号
JEOL-F200
规格
产地
日本
厂家
日本电子株式会社
所属品牌
出产日期
2024-08-29
购买日期
2024-01-25
所属单位
纳米科学与工程研究院
使用性质
科研
所属分类
电子光学仪器
资产负责人
付现伟 杨广彬 陈建平 张晟卯 李二岭 李昀
联系电话
13849162702
联系邮箱
yunli@henu.edu.cn
放置地点
河南大学校级平台纳米科学与工程研究院纳米材料工程研究中心纳米科学与工程研究院透射电镜
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
1.电子光学系统
1.1电子枪类型：肖特基场发射电子枪
1.2点分辨率：≤0.23nm@200kV；
1.3线分辨率：≤0.10nm@200kV；0.14nm@80kV；
1.4背散射电子分辨率：≤1.0nm@200kV；
1.5 STEM BF/DF分辨率：≤0.16nm@200kV；≤0.31nm@80kV；
2.能谱仪系统
2.1探测器类型：≥100mm2电制冷型，无需液氮；
2.2能量分辨率： ≤136 eV；
2.3元素分析范围：4Be至92U
2.4具有定性和定量分析功能，带有点、线、面分布分析软件；
1.1电子枪类型：肖特基场发射电子枪
1.2点分辨率：≤0.23nm@200kV；
1.3线分辨率：≤0.10nm@200kV；0.14nm@80kV；
1.4背散射电子分辨率：≤1.0nm@200kV；
1.5 STEM BF/DF分辨率：≤0.16nm@200kV；≤0.31nm@80kV；
2.能谱仪系统
2.1探测器类型：≥100mm2电制冷型，无需液氮；
2.2能量分辨率： ≤136 eV；
2.3元素分析范围：4Be至92U
2.4具有定性和定量分析功能，带有点、线、面分布分析软件；
主要功能及特色
主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构分析，系统有电子光学系统、高压系统、真空系统等部分组成。可以在极短时间内得到高分辨率的图像观察和成分分析，结合高灵敏度的能谱仪可以实现快速的成分分析。
样本检测注意事项
（1）形貌分析：可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息；
（2）结构分析：对样品进行纳米尺度的微分析，如：高分辨晶格条纹像等；
（3）成分分析：可对样品进行能谱点测、线扫、面扫，获得样品中的元素在一个点、一条线、一个面的分布情况。
（2）结构分析：对样品进行纳米尺度的微分析，如：高分辨晶格条纹像等；
（3）成分分析：可对样品进行能谱点测、线扫、面扫，获得样品中的元素在一个点、一条线、一个面的分布情况。
设备使用相关说明
分为自主上机和协助上机，协助上机必须选择测试员。
1.自主上机：形貌给、高分辨、EDS、STEM等（自主上机）150元/小时
2.协助上机：形貌给、高分辨、EDS、STEM等（协助上机）400元/时。
测试分为自主上机和需要协助上机。协助上机，需选择协助员：周一付现伟（15064131879）、周二李昀（13849162702）、周三陈建平（18137326608）、周四杨广彬（13693895089）。
1.自主上机：形貌给、高分辨、EDS、STEM等（自主上机）150元/小时
2.协助上机：形貌给、高分辨、EDS、STEM等（协助上机）400元/时。
测试分为自主上机和需要协助上机。协助上机，需选择协助员：周一付现伟（15064131879）、周二李昀（13849162702）、周三陈建平（18137326608）、周四杨广彬（13693895089）。
备注
1.透射电镜不能做磁性样品，样品中不得含有铁（Fe）、钴(Co)、镍(Ni)等磁性元素。
2.对于粉末和液体样品，要求样品均匀分散在支持碳膜上并且干燥。
3.易潮解的样品，请提前真空干燥处理。
4.高分辨样品要求厚度在10nm以下。
2.对于粉末和液体样品，要求样品均匀分散在支持碳膜上并且干燥。
3.易潮解的样品，请提前真空干燥处理。
4.高分辨样品要求厚度在10nm以下。
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检测项目
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