多功能转靶多晶体X射线衍射仪（XRD）
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收费标准
机时0元/小时 -
设备型号
SmartLab -
当前状态
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管理员
刘美玉 19545694591 -
放置地点
龙子湖校区九章学堂北楼B106
- 仪器信息
- 预约资源
- 附件下载
- 公告
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名称
多功能转靶多晶体X射线衍射仪（XRD）
资产编号
S202505764
型号
SmartLab
规格
X-射线发生器：最大输出功率：≥9kW；管电压：20-45kV；管电流：10-200mA；高压稳定度：±0.01%
产地
日本
厂家
株式会社理学
所属品牌
株式会社理学
出产日期
购买日期
2025-10-14
所属单位
分析测试中心
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
--
联系电话
19545694591
联系邮箱
放置地点
龙子湖校区九章学堂北楼B106
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
主要规格&技术指标
X射线光源：
·X-射线发生器：最大输出功率：9kW；管电压：20－45kV；
管电流：10－200mA；高压稳定度：±0.01%
测角仪：
·三重光学编码系统：包括θs轴、θd轴和光学编码驱动马达
·扫描方式：q/q方式
·θ转动范围：-5°－160°
二维面探测器：
·二维模式测量具有固定（照相）和TDI（扫描）方式，并具有零维、
一维、二维测量模式
·能量分辨率：340 eV
·具有高计数模式和消荧光模式
·X-射线发生器：最大输出功率：9kW；管电压：20－45kV；
管电流：10－200mA；高压稳定度：±0.01%
测角仪：
·三重光学编码系统：包括θs轴、θd轴和光学编码驱动马达
·扫描方式：q/q方式
·θ转动范围：-5°－160°
二维面探测器：
·二维模式测量具有固定（照相）和TDI（扫描）方式，并具有零维、
一维、二维测量模式
·能量分辨率：340 eV
·具有高计数模式和消荧光模式
主要功能及特色
主要通过分析样品衍射图谱，获得材料的成
分、结构等信息：
·粉末样品的物相定性与定量分析
·样品的晶系、晶粒大小与畸变分析
·Rietveld定量分析
·薄膜样品的物相、多层膜厚度、表面粗糙度，
电荷密度分析
·样品的原位变温测试
分、结构等信息：
·粉末样品的物相定性与定量分析
·样品的晶系、晶粒大小与畸变分析
·Rietveld定量分析
·薄膜样品的物相、多层膜厚度、表面粗糙度，
电荷密度分析
·样品的原位变温测试
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