少子寿命测试仪
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收费标准
机时2元/小时送样详见检测项目 -
设备型号
MDP spot -
当前状态
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管理员
寇东星 18237848289 -
放置地点
河南大学校级平台纳米科学与材料工程学院-40万以上特种功能材料教育部重点实验室(8号楼)207
- 仪器信息
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
少子寿命测试仪
资产编号
2014010145
型号
MDP spot
规格
MDP spot
产地
德国
厂家
德国Freiberg Instruments GmbH公司
所属品牌
出产日期
2015-10-08
购买日期
2014-04-10
所属单位
纳米科学与材料工程学院
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
寇东星
联系电话
18237848289
联系邮箱
koudongxing@henu.edu.cn
放置地点
河南大学校级平台纳米科学与材料工程学院-40万以上特种功能材料教育部重点实验室(8号楼)207
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
主要规格&技术指标
1、测量精度：少子寿命要求准确度（3 Sigma）≤ 3%，实际运行测试值为2.26%，达到要求。
2、测量误差：少子寿命要求重复精度≤ 1%，实际运行测试值为0.67%，达到要求。
3、测量范围：少子寿命要求测量范围可达到0.1us～100ms，实际运行测试为0.1us～100ms，达到要求。
4、激光光源要求采用激发功率500~ 5000 mW的980 nm光源，实际与要求相符，达到要求。
2、测量误差：少子寿命要求重复精度≤ 1%，实际运行测试值为0.67%，达到要求。
3、测量范围：少子寿命要求测量范围可达到0.1us～100ms，实际运行测试为0.1us～100ms，达到要求。
4、激光光源要求采用激发功率500~ 5000 mW的980 nm光源，实际与要求相符，达到要求。
主要功能及特色
少子寿命测试仪主要应用于半导体/光电/光伏材料（单晶/多晶硅片/硅锭及铜铟镓硒薄膜）的工艺控制及测试。通过测量少子寿命，可分析薄膜制备过程引入的缺陷复合及光电导率的变化。
样本检测注意事项
测试对象：硅/铜铟镓硒薄膜及器件。
设备使用相关说明
按小时收费，2元/小时
检测项目
附件下载
公告
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