少子寿命测试仪 (MDP spot)

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设备型号 :MDP spot

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负责人 :寇东星

联系人 :寇东星 18237848289

放置地点 :特种功能材料教育部重点实验室 > 特种功能材料教育部重点实验室(8号楼)207

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  • 名称少子寿命测试仪
  • 资产编号2014010145
  • 型号MDP spot
  • 规格Freiberg Instruments
  • 产地德国
  • 厂家
  • 所属品牌
  • 出产日期2015-10-08
  • 购买日期2014-04-10
  • 所属单位特种功能材料教育部重点实验室
  • 使用性质科研
  • 所属分类
  • 联系人寇东星
  • 联系电话18237848289
  • 联系邮箱koudongxing@henu.edu.cn
  • 放置地点特种功能材料教育部重点实验室(8号楼)207

主要规格及技术指标

1、测量精度:少子寿命要求准确度(3 Sigma)≤ 3%,实际运行测试值为2.26%,达到要求。
2、测量误差:少子寿命要求重复精度≤ 1%,实际运行测试值为0.67%,达到要求。
3、测量范围:少子寿命要求测量范围可达到0.1us~100ms,实际运行测试为0.1us~100ms,达到要求。
4、激光光源要求采用激发功率500~ 5000 mW的980 nm光源,实际与要求相符,达到要求。

主要功能及特色

少子寿命测试仪主要应用于半导体/光电/光伏材料(单晶/多晶硅片/硅锭及铜铟镓硒薄膜)的工艺控制及测试。通过测量少子寿命,可分析薄膜制备过程引入的缺陷复合及光电导率的变化。

样本检测注意事项

测试对象:硅/铜铟镓硒薄膜及器件。

设备使用相关说明

按时收费,50元/小时
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