扫描探针显微镜（2015009877）
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收费标准
机时100元/小时送样详见检测项目 -
设备型号
Dimension Icon -
当前状态
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管理员
蒋晓红 13569508651 13623570694 -
放置地点
河南大学校级平台材料学院-40万以上特种功能材料教育部重点实验室(8号楼)117
- 仪器信息
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
扫描探针显微镜（2015009877）
资产编号
2015009877
型号
Dimension Icon
规格
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产地
美国
厂家
Bruke
所属品牌
布鲁克
出产日期
购买日期
2015-08-28
所属单位
材料学院-40万以上
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
蒋晓红 梁帅帅 王允其
联系电话
13569508651,13623570694
联系邮箱
qiqijjxh@henu.edu.cn
放置地点
河南大学校级平台材料学院-40万以上特种功能材料教育部重点实验室(8号楼)117
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
1. 噪音水平：<0.03 nm RMS值.
2. 分辨率：RMS < 0.3 Å (垂直方向)，横向分辨率：0.2 nm (XY方向).
3. 具有最新的Peakforce Tapping成像技术.
2. 分辨率：RMS < 0.3 Å (垂直方向)，横向分辨率：0.2 nm (XY方向).
3. 具有最新的Peakforce Tapping成像技术.
主要功能及特色
主要用于测量物质的表面形貌、摩擦力、粘弹性、静电力、压电力、I/V曲线等表面性质
样本检测注意事项
样品必须为表面平滑的薄膜
设备使用相关说明
大气下普通形貌测试 100元/小时， 要求样品表面尽量清洁，若探针被样品污染另计探针耗材200元/根
PFM，C-AFM，MFM，EFM，KPFM测试300元/小时， 要求样品表面尽量清洁，若探针被样品污染另计探针耗材200元/根
PFM，C-AFM，MFM，EFM，KPFM测试300元/小时， 要求样品表面尽量清洁，若探针被样品污染另计探针耗材200元/根
备注
自备探针耗材
检测项目
附件下载
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