扫描探针显微镜（00000081）
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收费标准
机时20元/小时送样详见检测项目 -
设备型号
SPA-400 -
当前状态
待报废 -
管理员
张永乐 18911296574 -
放置地点
- 仪器信息
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
扫描探针显微镜（00000081）
资产编号
00000081
型号
SPA-400
规格
SPA400
产地
日本
厂家
日本精工
所属品牌
日本精工
出产日期
购买日期
2000-06-01
所属单位
材料学院-40万以上
使用性质
科研
所属分类
显微镜及图像分析仪器
资产负责人
张永乐
联系电话
18911296574
联系邮箱
放置地点
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
主要规格&技术指标
x,y,0.1 nm; z,0.01 nm
主要功能及特色
主要用于测量物质的表面形貌、表面电势、摩擦力、粘弹性、I/V曲线等表面性质, 还具有纳米刻蚀功能，电化学测量功能、电流同时成像功能等
样本检测注意事项
样品必须为表面平滑的薄膜
设备使用相关说明
一、 先打开仪器主机，再调用主程序。
二、 选择所用的模式，如DFM、AFM等，并选用相应的holder。
三、 将样品用双面胶粘于样品台，如需导电，用导电胶；确保样品粘接牢固，然后将样品台放置在扫描器的中心位置上。
四、 将Holder安放在导轨上。放Holder前，确保样品与针尖距离足够远，并将Holder卡到位。（注：样品与针尖不足够远时，有可能损伤针尖，holder不到位，将导致针尖接近不正常。）
五、 打开CCD电源和电脑上的图形监控程序，调整聚焦旋钮（在光头上）至图像清晰，选择扫描的位置。
六、 打开激光，调节光头右边的两旋钮，将激光点打在针尖上，并使ADD值最大。调整激光头左边两旋钮使DIF、FFM 至要求的值（DFM达0.1以下，AFM的DIF达0.5-1，FFM达0.1以下）。
七、 DFM 接近前先测Q曲线，曲线成单尖峰最好。接近前若针尖-样品间距过大，用Approach/Move in/Low接近样品至目测可控的范围。接近时DFM用Auto，AFM用Area。
八、 选择扫描区域及扫描范围（大约5000nm用1Hz，面积减小，速度适当增大）。扫描时可以调节force ref、amp ref、I gain、Pgain、scan speed 至图像清晰。
九、 扫描结束后，用Preset键退出针尖，处理图像（Tilt1、2、3，Flat）并存盘
十、 变换扫描位置或更换样品时，用Approach/move out使针尖退出一定距离，并用Setup/Sample change 关掉激光和扫描器电源，从步骤三到步骤十重新开始。测试结束时，退出主程序，关闭仪器主机。
二、 选择所用的模式，如DFM、AFM等，并选用相应的holder。
三、 将样品用双面胶粘于样品台，如需导电，用导电胶；确保样品粘接牢固，然后将样品台放置在扫描器的中心位置上。
四、 将Holder安放在导轨上。放Holder前，确保样品与针尖距离足够远，并将Holder卡到位。（注：样品与针尖不足够远时，有可能损伤针尖，holder不到位，将导致针尖接近不正常。）
五、 打开CCD电源和电脑上的图形监控程序，调整聚焦旋钮（在光头上）至图像清晰，选择扫描的位置。
六、 打开激光，调节光头右边的两旋钮，将激光点打在针尖上，并使ADD值最大。调整激光头左边两旋钮使DIF、FFM 至要求的值（DFM达0.1以下，AFM的DIF达0.5-1，FFM达0.1以下）。
七、 DFM 接近前先测Q曲线，曲线成单尖峰最好。接近前若针尖-样品间距过大，用Approach/Move in/Low接近样品至目测可控的范围。接近时DFM用Auto，AFM用Area。
八、 选择扫描区域及扫描范围（大约5000nm用1Hz，面积减小，速度适当增大）。扫描时可以调节force ref、amp ref、I gain、Pgain、scan speed 至图像清晰。
九、 扫描结束后，用Preset键退出针尖，处理图像（Tilt1、2、3，Flat）并存盘
十、 变换扫描位置或更换样品时，用Approach/move out使针尖退出一定距离，并用Setup/Sample change 关掉激光和扫描器电源，从步骤三到步骤十重新开始。测试结束时，退出主程序，关闭仪器主机。
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