半导体特性测量系统 (4200-SCS/F)

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设备型号 :4200-SCS/F

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负责人 :程纲

联系人 :张永乐 管瑞娜 张娜娜

放置地点 :特种功能材料教育部重点实验室 > 特种功能材料教育部重点实验室(8号楼)117

IP地址 :

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  • 名称半导体特性测量系统
  • 资产编号08001744
  • 型号4200-SCS/F
  • 规格
  • 产地美国
  • 厂家keithley
  • 所属品牌
  • 出产日期
  • 购买日期
  • 所属单位特种功能材料教育部重点实验室
  • 使用性质科研
  • 所属分类光电测量仪器
  • 联系人张永乐 管瑞娜 张娜娜
  • 联系电话
  • 联系邮箱
  • 放置地点特种功能材料教育部重点实验室(8号楼)117

主要规格及技术指标

该仪器具有四个源测量单元(SMU),其中包括三个0.1fA的高分辨率SMU和一个1A的大功率SMU

主要功能及特色

各种微米和纳米器件的电学性能测试
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