半导体特性测量系统
-
0/人使用者
-
0/次总次数
-
0/小时总时长
-
4/人收藏者
-
收费标准
机时10元/小时送样详见检测项目 -
设备型号
4200-SCS/F -
当前状态
-
管理员
郭俊猛,杨锋 15110297656 -
放置地点
- 仪器信息
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
- 同类仪器
名称
半导体特性测量系统
资产编号
08001744
型号
4200-SCS/F
规格
4200-SCS/F
产地
美国
厂家
keithley
所属品牌
吉时利
出产日期
购买日期
2008-06-01
所属单位
材料学院-40万以上
使用性质
科研
所属分类
光电测量仪器
资产负责人
杨锋 郭俊猛
联系电话
15110297656
联系邮箱
放置地点
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
该仪器具有三个源测量单元（SMU），其中包括二个0.1fA的高分辨率SMU和一个1A的大功率SMU
主要功能及特色
各种微米和纳米器件的电学性能测试
样本检测注意事项
测试样品需制备金属电极，基底必须绝缘
设备使用相关说明
1元或10元/小时
备注
该设备测量与探针台搭配使用测量效果更好
检测项目
附件下载
公告
同类仪器
